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Curso Microscopía de Fuerza Atómica(AFM)
El próximo 23 de julio de 2013 tendrá lugar el curso Microscopía de Fuerza Atómica(AFM), modos de operación y aplicaciones, dentro del ciclo Conoce el ICTP. Las personas que deseen participar deben inscribirse por correo electrónico antes del 15 de julio, a través del Servicio de Promoción y Divulgación de la Investigación del ICTP.
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El ICTP dispone de un cromatógrafo de gases Hewlett Packard 6890 HRGC con detector de espectrometría de masas Agilent Technologies modelo 5973.
El equipo dispone de una columna capilar DB5 que permite el análisis cualitativo y cuantitativo de sustancias orgánicas volátiles tales como ftlatos, contaminantes u otros aditivos orgánicos presentes en muestras poliméricas y otros materiales.
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Seminario
Coaching de equipos
Ana Fe de la Hoz
Coach personal y de equipos
11 de Junio 2013, 12.00 h, sala 317
Seminario
Strain-induced crystallization of natural rubber by new Synchrotron X-ray analysis
Dr. Shigeyuki Toki
Department of Chemistry, Stony Brook University, United States
2 de Julio 2013, 12.00 h, sala 317 |
Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica del ICTP
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica se encarga de dar soporte para el desarrollo de la investigación a los diferentes grupos y departamentos del ICTP así como a otros Institutos, Organismos Públicos de Investigación, Universidades y Empresas que lo soliciten. El Servicio dispone de equipos y técnicas para ensayos de caracterización física, análisis químico, envejecimiento, propiedades térmicas y mecánicas en plásticos y elastómeros. Se realizan trabajos de asesoramiento a las empresas, ensayos e informes, en definitiva una amplia gama de análisis y caracterizaciones sobre cualquier tema relacionado con los materiales poliméricos.
Equipamiento
• Microscopio Atómico de Fuerza (AFM) Multimode SPM-Veeco Nanoscope IVa.
• Difracción de Rayos X D8 Advance, Bruker, con cámara de temperatura Anton-Paar TTK 450.
• Análisis Dinamo-Mecánico (DMTA) 861E, Mettler.
• Microscopía Raman Confocal InVia Reflex, Renishaw.
• Resonancia Magnética Nuclear de sólidos Avance III 400, Bruker.
• Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) XL 30, FEI.
• Microscopio Electrónico de Barrido (FE-SEM) SU 8000, Hitachi.
• Análisis termogravimétrico (TGA) Q500, TA Instruments.
• Análisis termogravimétrico con masas (TGA-MS) ThermoStar GSD 301 T, Pfeiffer.
• Ultramicrotomo, Leica.
• Equipo de espectroscopía dieléctrica de banda ancha, Novocontrol.
• Dinamómetro DX2000, MTS.
• Calorímetro Diferencial de Barrido DSC 7, Perkin Elmer.
• Elipsómetro AUTO SE, Horiba.
• Espectrofotómetro Ultravioleta-Visible Lamda 16, Perkin Elmer.
• Fluorímetro LS 50B, Perkin Elmer.
• Miniextrusora Thermo Scientific HAAKE Minilab.
• Prensa Collin P200P.
• Prensa Collin 200x200.
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