DIFRACCIÓN DE RAYOS X |
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La difracción de Rayos X es una técnica no destructiva muy útil para la caracterización estructural de los materiales. En ella un haz de rayos X monocromático incidente se desvía de su dirección original por interacción con el material irradiado. Se basa en la relación establecida por Bragg entre el ángulo de incidencia de la radiación (Θ), su longitud de onda (λ) y la distancia entre planos cristalinos del material. nλ=2dsenΘ
El laboratorio de difracción de rayos X del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros dispone de un equipo Bruker D8 Advance dotado de una fuente de rayos X con blanco de cobre, con espejo de Göbel (haz paralelo), pudiendo trabajar con un detector de centelleo o Vantec. El tipo Vantec es un detector de posición que ofrece una alta sensibilidad para un tiempo de medida muy corto permitiendo el análisis in situ de reacciones o transiciones de fases cristalinas. El equipo dispone de una cámara de temperatura que permite estudiar los cambios en la estructura cristalina de un material tanto en condiciones isotérmicas como en condiciones dinámicas en un intervalo de temperatura que va desde -80ºC hasta 250ºC.
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Con este dispositivo el intervalo de ángulos en los se puede realizar los ensayos es de 2Θ≥3º.
Procesos de fusión / Cristalización
TIPO DE MUESTRAS: Filmes, líquidos, geles y polvos no estáticos. Con la cámara de temperatura no se realizarán medias de muestras en polvo.
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Técnico responsable: PEDRO GONZÁLEZ PÉREZ Contacto: p.gonzalez@csic.es Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 921479 Asesor científico: ERNESTO PÉREZ TABERNERO Contacto: ernestop@ictp.csic.es Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 921317. |